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SPECTROCUBE 偏振能量色散X熒光分析儀 ED-XRF
全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析儀為各種應(yīng)用提供簡(jiǎn)單、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析,在貴金屬分析、燃料和潤(rùn)滑油、RoHS合規(guī)檢測(cè)及各種篩分分析尤為優(yōu)秀。 -
德國(guó)斯派克ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀GREEN
采用垂直同步雙觀測(cè) (DSOI)技術(shù)的ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀 SPECTROGREEN -
德國(guó)斯派克全譜電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 ICP(ARCOS)
專利的密封充氣紫外光學(xué)系統(tǒng),全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù),高靈敏度、高精度以及波長(zhǎng)范圍寬。 全波長(zhǎng)覆蓋,130~770nm的波長(zhǎng)范圍,可分析ppm級(jí)鹵素 -
PHASE(菲斯)公司全自動(dòng)冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)檢測(cè)儀-70Xi
眾多國(guó)際、國(guó)內(nèi)分析標(biāo)準(zhǔn)均按照PHASE(菲斯)公司產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)制定。 PHASE(菲斯)公司全自動(dòng)冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)檢測(cè)儀-70Xi采取自動(dòng)脈沖壓檢測(cè),冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)四大功能 -
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過(guò)絕對(duì)反射率進(jìn)行測(cè)量,可進(jìn)行高精度膜厚度 光學(xué)常數(shù)分析。 可通過(guò)非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測(cè)量時(shí)間 -
日本Otsuka膜厚測(cè)量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據(jù)安裝現(xiàn)場(chǎng)需求評(píng)估設(shè)計(jì),是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的最佳即時(shí)測(cè)量系統(tǒng)